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样片校准完毕，可直接进行测量，或把两种样片分别放在校准铁基上测量，如超出误差范围，可对超出样片重新校准，方法如下，按动号键，仪器把当前校准样片号调出显示，如不是超差样片，按住号键不动，样片号从0～2循环显示，到认可校准样片号，松开号键。如要重新校准2号样片，把2号样片放入铁基测量出一数值，按住探头不动，按HL后，屏幕上显示下一个校准样片号，校准完毕。可直接进行测量。
（3）在测量状态下储存：在测量状态下屏幕显示为最新测量值，如需存储按动仪器侧面ET键，存储地址自动加1，如需存储可重新测量。
3.注意事项
（1）基体金属磁化：磁性法测量受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁的变化可以认为是轻微的）。为了避免热处理、冷加工等因素的影响，应使用与镀件金属具有相同性质的铁基片对仪器进行校对。
（2）基体金属厚度：每一种仪器都有一个基本金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
（3）边缘效应：本仪器对试片表面的陡变敏感，因此在靠近试片边缘或内转角处进行测量是不可靠的。试件的曲率对测量有影响，这种影响是随着曲率半径减小明显增大。因此不应在试件超过允许的曲率半径的弯曲面上测量。
（4）表