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，而且会有不完全固化的可能的风险，并且会大大减少涂层系统的整体性能。高膜构造通常会导致粘结强度低。涂层容易从基材上剥离或破裂。定期检测可以减少内部返工和因加工缺陷而客户退货的数量。
三、符合标准
粉末涂层厚度的测量要根据测试是在粉末固化之前或之后来使用不同的测量方法。美国社会测试和材料协会（ASTM）具有一系列的描述这些技术的标准。
D 4138测试方法描述了用切片仪器测试坚固底材的破坏性测量方法。
D 7091操作规程描述了用磁性测厚仪和
涡流测厚仪测量金属底材的非破坏性测量方法。D6132测试方法描述了用超声波测厚仪
测量非金属底材的非破坏性测量方法。
D 7378标准描述了三种测量制备的预固化粉末涂层的厚度的方法来预估固化后的厚度。
四、膜厚度测量的概要
膜厚测量可以在固化和交联之前或之后进行。基底的类型、涂层的厚度范围、涂层的大小和形状及作业的经济能力决定使用的测量方法。
在未固化的粉末涂料，高度的测量可以用粉梳子和使用专用的粉末探头的电子测量仪进行测量。由于在固化过程粉末涂层的厚度会减少，所以要确定减少的因素来预测固化后的DFT。另外，超声波仪器测量未固化的粉末不用接触表面并